X-RAY 5000 系列儀器採用模組化設計，可讓您輕鬆地整合至生產線之中。例如，如果必須測量大型表面基質 (如錫板) 上的塗層，X-RAY 5000 絕對是您最佳的解決方案。視基底和塗層材料不同，可針對客戶的需求自訂 X 射線源、偵測器和主濾光鏡。

 

特性

 

可與生產系統連接，在製程運轉中持續進行測量

應用彈性：可用於真空或大氣環境中溫度可達 400°C 的表面

特別堅固的設計與構造，在嚴苛的條件下也有精準一致的測量結果

非常適合對具有大型表面的產品進行塗層厚度測量和材料分析

應用：

 

塗層厚度測量

 

測量太陽能產業中 CIGS、CIS、CdTe 和 CdS 塗層的厚度

金屬帶、金屬箔和塑膠箔上僅有幾微米厚的薄薄的塗層

材料分析

 

測量太陽光電產業中 CIGS、CIS、CdTe 和 CdS 塗層的成分

持續生產程序的金屬塗層

濺鍍和電鍍廠的程序監控