XUV XUV這款儀器非常適合要求極高的塗層厚度測量以及材料分析作業
XUV
XUV這款儀器非常適合要求極高的塗層厚度測量以及材料分析作業
XUV
廠牌：Helmut Fischer
供應商：菲希爾測試儀器有限公司
聯絡電話：02-87975589
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XUV® 系列設備配備真空測量室，採用 X 射線螢光分析法 (RFA) 鑑定鈉之前的輕元素。室內空氣因具有吸收輻射的特性，所以一般來說無法使用此分析法。有鑑於此，這款儀器非常適合要求極高的塗層厚度測量以及材料分析作業。
特性：
偵測限制低、準確性一致，且測量在各方面均能升級，因此特別適合用於研發作業
配備真空室和高效能矽漂移偵測器，能精準測量，即使是輕元素亦如此
可程式化 X、Y 和 Z 軸，進行自動化系列測試
可換式光圈和濾光鏡，可針對多種材料的要求和測量條件進行調整
應用：
塗層厚度測量
鈉之前的輕元素塗層，奈米級
鋁塗層和矽塗層
材料分析
貴重寶石的真偽和來源地測定
一般材料分析和鑑定
高解析度微量分析
