M-OG202J P.I.G.破壞式膜厚計
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P.I.G.破壞式膜厚計(美製/MICRO)
型 式 : M-OG202J(鋁鋼外殼)
測試範圍 : 任選一種刮刀
NO.1 0-2500 um/一小格 20um
NO.2 0-1250 um/一小格 10um
NO.10 0- 250 um/一小格 2um
放 大 鏡 : 50倍(附光源)
組 成 : 本體(含放大鏡,有刻劃)一台
刮刀一支
皮套一個
筆一支
乾電池二個
產品關鍵字：
