型號

LE-373

測定方式

電磁誘導式

測定對象

磁性體上的非磁性被膜

測定範圍

0~2500um或99.0mils

測定精度

50um以下：±1um；50um以上1000um以下：±2%

1000um以上：±3%

最小解析

100um以下：0.1um；100um以上：1um

符合規範

JIS K5600-1-7、JIS H0401、ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840、BS 3900-C5 ASTM B499、ASTM D7091-5、ASTM E376

記憶容量

約39,000點

檢量曲線

具100條檢量曲線記憶容量

測頭型式

一點接觸定壓式（LEP-J）

顯示方式

具背光式LCD數值顯示，最小解析0.1um

外部輸出

個人電腦(USB & RS-232C)

使用電源

單3鹼性電池x4只

消費電力

80mW(背光關閉時)

電池壽命

約100小時(背光關閉、連續使用)

操作溫度

0~40℃

附加機能

檢量曲線選擇、基體校零、資料刪除、資料記憶、上下限設定、統計計算、選擇顯示、日期時間、自動關閉時間、背光亮度、背光時間、單位切換、資料輸出、自動批號、測定方式、維修模式

尺寸重量

75(W)x145(D)x31(H)mm、0.34kg

標準附件

校正標準片x6片、標準片盒子、鐵素材、曲面固定器、攜帶皮套組、鹼性電池x4只