理科企業有限公司 |
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理科企業有限公司於1989年成立於台北。二十餘年來,秉持者專業的技術、嚴謹的態度、熱誠的服務精神與開放的學習心態,替國內的學術界舉凡全台灣各大專院校、公私立文理科研究單位及產業界例如電子光電產業、水泥產業、陶瓷產業、醫藥產業、生化科技產業、鋼鐵產業、環境科學產業及礦產業提供第一流的分析儀器與技術服務
現階段我們專精於X光繞射、X光螢光、小角散射、太陽能電池品管檢測、X光導光用毛細管、高輝度電漿X光脈衝、熱分析、光學顯微鏡、粒徑分析、表面積分析、掃瞄式電子顯微鏡、 掃瞄探針顯微鏡、各種超高真空表面分析技術、X光數位顯像技術、磁探傷、渦流探傷、磁氣測量儀器、硬度計、流變儀等科學科技用儀器。良好的學術研究與產品生產建基於一個健全的學術與品管環境。我們期望能夠持續提供一流的產品與服務,並引入更多先進的設備。這是我們對自己的期許也是對社會應盡的義務。
◎材料分析
‧X光非破壞分析、X光繞射、波長分散X光螢光光譜儀、能量分散X光螢光光譜儀、小角散射、X光吸收光譜儀、X光光源、X光光學附件
‧熱分析儀
‧表面分析、光學顯微鏡、掃瞄電子顯微鏡、掃瞄探針顯微鏡、超高真空表面分析
‧粒徑分析‧表面積分析‧流變儀‧硬度計‧磁性量測
◎非破壞檢驗
‧工業用X光源、端窗型、低功率端窗型、環型
‧X光數位顯像、磁粉探傷、渦流探傷、磁化器、脫磁器、工業用內視鏡
◎品質管制、密封性測試
成份分析、製藥、原子力顯微鏡、CIGS、膜厚、晶格、結晶、Fluxana、拉曼光譜、雷射共軛焦、掃描探針、Rigaku、Microtrac、Emic、Scienscope、SUN、Nanoscantech、Ifg、Citizen、RF systems,Nion,TEM,X光XRD、XRF、DSC