商品規格

低阻抗率計 MCP-T370型 (手提式)
Loresta-AX

維持安定之高品質，依據世界唯一之四探針理論之高精度之阻抗率計。操作簡單，現場使用攜帶型方便，用於生產技術、品質管理

測定範圍：

10^-2～10⁶Ω

資料輸出：

USB Memory

尺寸：

約 228 ^L× 85 ^W× 65 ^Hmm, 420g

標準配備

ASP探頭 MCP-TP03P (RMH110)《四探針探頭》

利用價值廣泛標準探頭JIS K7194對應，
Pin間 5mm，Pin尖 0.37R×4支，壓力 210g/支，

MCP-TA06 充電器

選購品

ESP探頭 MCP-TP08P (RMH114)《四探針探頭》

不均一樣品用
Pin間 5mm，Pin尖 Ø 2×4支，壓力 240g/支，

PSP探頭 MCP-TP06P (RMH112)《四探針探頭》

小樣品或薄膜用
Pin間 1.5mm，Pin尖 0.26R×4支，壓力 70g/支，

BSP探頭 MCP-TP05P (RMH111)《四探針探頭, 特殊用探頭》

大樣品用
Pin間 2.5mm，Pin尖 0.37R×4支，壓力 210g/支

LSP探頭 MCP-TPLSP (RMH116)《四探針探頭, 特殊用探頭》

Soft surface samples用 (RMH116)
Pin間 5.0mm，Pin尖 2mm×4支，壓力 130g/支

AP2探頭 MCP-TPAP2 (RMH333)《二探針探頭》

BP探頭 MCP-TPBP (RMH118)《二探針探頭》

大樣品用
Pin尖 Ø 2×2支，壓力 240g/支

ASP探頭 MCP-TP03P(RMH110)《四探針探頭》

利用價值廣泛標準探頭JIS K7194對應，
Pin間 5mm，Pin尖 0.37R×4支，壓力 210g/支，

QP2探頭 MCP-TPQP2(RMH119)《四探針探頭》

微小樣品用
Pin間 1.5mm，Pin尖 0.26R×4支，壓力 70g/支，

TFP探頭 MCP-TFP(RMJ217)《四探針探頭, 特殊用探頭》

Thin films on Si wafer用 
Pin間 1.0mm，Pin尖 0.15R×4支，壓力 50g/支

NSCP探頭 MCP-NSCP(RMJ202)《四探針探頭, 特殊用探頭》

Silicone wafer用 
Pin間 1.0mm，Pin尖 0.04R×4支，壓力 250g/支

MCP-TRF1(RMH304) 探頭檢驗片

ASP, ESP,LSP探頭用 (探頭檢驗片於測定前檢查之)

MCP-TRPS (RMH311) 探頭檢驗片

PSP探頭用 (探頭檢驗片於測定前檢查之)

MCP-TRT2 (RMH335) 探頭檢驗片

AP2,BP探頭用 (探頭檢驗片於測定前檢查之)

MCP-TRTF (RMH312) 探頭檢驗片

TFP, NSCP探頭用 (探頭檢驗片於測定前檢查之)

MCP-TRQP2 (RMH313) 探頭檢驗片

QP2探頭用 (探頭檢驗片於測定前檢查之)

 Standard equipment

ASP MCP-TP03P (p/n RMH110)

Standard, Pin Interval 5mm,

Pin Top 0.37R ×4 pins

Pushing Pressure 210g/Pin

MCP-TA06 Adaptar

 Option

ESP MCP-TP08P (p/n RMH114)

For non homogeneous samples,

Pin Interval 5mm,

Pin Top ψ2 × 4 pins

Pushing Pressure 240g/Pin

PSP MCP-TP06P (p/n RMH112)

For small samples,

Pin Pitch 1.5mm,

Pin Points 0.26R × 4 pins

Spring pressure 70g/Pin

BSP MCP-TP05P(p/n RMH111)

For very large samples,

Pin pitch 2.5mm

Pin points 0.37R × 4pins

Spring pressure 210g/pin

LSP MCP-TPLSP (p/n RMH116)

For soft surface samples,

Pin pitch 5mm

Pin top hemisphere

2mm × 4pins

Spring pressure 130g/pin

AP2 MCP-TPAP2 (p/n RMH333)

BP MCP-TPBP (p/n RMH118)

Resistance by 2 parts: Each part has apin,

In interval free,

Pin top ψ2 × 2 pins

Pushing pressure 240g/Pin

ASP MCP-TP03P (p/n RMH110)

Standard, Pin Interval 5mm,

Pin Top 0.37R ×4 pins

Pushing Pressure 210g/Pin

QP2 MCP-TPQP2 (RMH119)

For very small samples,

Pin pitch 1.5mm

Pin points 0.26R × 4pins

Spring pressure 70g/pin

TFP MCP-TFP (PMJ217)

For thin films on Si Wafer,

Pin pitch 1.0mm

In points ψ0.15 × 4pins

Spring pressure 50g/pin

NSCP MCP-NSCP (PMJ202)

For Silicon Wafer,

Pin pitch 1.0mm

In points ψ0.04 × 4pins

Spring pressure 250g/pin

MCP-TRF1 (p/n RMH304)

Linear 4 Pins, 1Ω

For ASP, ESP, LSP Probes

MCP-TRPS (p/n RMH311)

Linear 4 Pins, 1Ω,

for PSP probe

MCP-TRT2 (p/n RMH335)

2 Pins, 1Ω,

For AP2 probes

MCP-TRTF(p/n RMH312)

TFP, NSCP

MCP-TRQP2 (p/n RMH313)

4 Pins, 1Ω,

For QP2 probes