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Vista-IR 為光學結合AFM 使用專利之photo-induced force microscope (光致感應力顯微鏡) 可達空間分辨率10nm

原子力顯微鏡(工業In-line用及研究用)； 韓國Park: 多功能原子力顯微鏡, LED 、 LCD用大尺寸樣品機台, 半導體用全自動機台； 美國 Molecular Vista； 半導體機器；

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